Vzhledem k tomu, že displeje z tekutých krystalů se stále častěji používají v každodenním životě, jejich jádrové komponenty, typy obvodů měničů LCD a poptávka po nich se také zvýšily. Za normálních okolností je zkouška řídicího obvodu řídicího LCD displeje dokončena na zkušebním systému s obvodem LCD, ale vzhledem k jeho vysoké ceně se také výrazně zvýšily zkušební náklady, čímž se stává překážka omezující hromadnou výrobu řídicího obvodu řízení LCD . Vzhledem k výše uvedeným důvodům článek navrhuje zkušební metodu pro řídicí obvod řízení LCD založenou na digitálním testovacím systému, aby bylo možné realizovat nízkonákladové a vysoce kvalitní testování řídicího obvodu LCD řízení. Současně, podle vlastností řídicího obvodu řízení LCD, v kombinaci s praktickými zkušenostmi, jsou zavedeny některé zkušební techniky pro řídicí obvody řízení LCD.
1. Úvod
Zařízení LCD displeje byla v mnoha případech široce využívána kvůli svým vynikajícím výhodám, jako je nízké napětí a nízká spotřeba energie. Zvláště u přenosných elektronických výrobků došlo k rychlému pokroku při používání displejů s tekutými krystaly, jako jsou STN a TFT. Analogový výstup LCD IC ovladače (LCD Driver IC) přímo řídí různé panely LCD displeje a řídí činnost pixelových polí různých LCD monitorů. Je to jádro zařízení na displejích LCD a kvalita řídicího obvodu ovladače LCD je přímo určena. Efekt displeje z tekutých krystalů, takže návrh tohoto typu obvodového testovacího programu je také obzvláště důležitý. Tento článek představuje především jednoduchou zkušební metodu řídícího obvodu LCD displeje založenou na digitálním testovacím systému a několik tipů, které autor shrnuje v praxi.
2 Obtížnost testování obvodu měniče LCD
2.1 Mnoho kolíků
Počet hnacích čepů řídicího obvodu LCD displeje má jen desítky a tolik než tisíce, odpovídající zkušební zařízení musí nakonfigurovat velké množství testovacích kanálů, které obecně dosahují 256 až 512 kanálů nebo dokonce 1024 kanálů.
2.2 Jemné napětí měniče
U barevného displeje s barevným rozlišením 4096 barev mají tři barvy RGB šest úrovní šedé pro každou barvu, což odpovídá 16 úrovním napětí měniče, tj. 16 (R) & TImes; 16 (G) & TImes; 16 (B) = 4096. Je-li to skutečný barevný displej, každá barva je 256 úrovní šedé, což odpovídá 256 jednotkám napětí. Zkušební zařízení musí proto být schopno rychle a přesně měřit stupňovitý výstup analogového signálu zařízením řidiče LCD s rozlišením milivoltů. To je zvláště důležité, protože jízdní napětí je stabilní a jednotné a má rozhodující vliv na LCD displej.
2.3 Široký rozsah výstupního napájecího napětí
Výstupní napětí řídicího obvodu řídicího LCD displeje je mnohem vyšší než napětí 5V běžného zařízení CMOS, dokonce dosahuje více než 30V a kvůli zvláštnosti displeje LCD musí být polarita jízdního napětí stále obráceně. Z tohoto důvodu musí měřicí rozsah pro zkušební zařízení dosáhnout 30V nebo více a může se vyrovnat se změnou polarity napájecího napětí.
2.4 Ostatní
U některých obvodů ovladačů zobrazení testovací zařízení potřebuje výkonný software pro analýzu signálu, který provádí aritmetické zpracování analogových údajů o napětí, které jsou vzorkovány v testovacím kanálu, aby získaly konkrétní informace o barvě jednotlivých pixelů a určily stav zařízení.
3 Metoda testování obvodu řídicí jednotky LCD
Z typických problémů je zřejmé, že řídící obvod řízení LCD je uveden pouze nad tím, že testování těchto obvodů kladou vysoké požadavky na zkušební schopnosti zkušebního zařízení, takže nejlepší zkušební zařízení je pro řídící obvod řízení LCD. V roce 2008 byl k dispozici zkušební systém pro testování obvodů bez LCD, jako například největší světová zkušební zařízení společnosti Advantest T6371, T6373, ND1, ND2 atd., V roce 2008 Teradyne D750Ex a současný LCD ovladač Yokoga wa TS670 a TS6700 se používají hlavně v IC balení a hromadné výroby. TS670 a TS6700 podporují pouze jeden jediný IC ovladač IC a výstupní počet pinů je až 736 pinů. Nicméně vzhledem k podpoře produktů s vícekanálovými technologiemi (LCD televizory apod.) Je počet výstupních pinů od 300 do 400 stop. Noha je ostře zvednutá na 800 stop na více než 1 000 stop. ND2 a ND2 od společnosti Advantech, D750Ex od společnosti Teradyne, atd. Mohou podpořit tuto situaci (ND2 dokáže podporovat počet čepů až 1500 nad nohama, D750Ex může podporovat až 2 400 stop).
Vzhledem k odpovídajícímu nárůstu nákladů na zkoušku však může některý obvod řízení měniče LCD používat i digitální zkušební systém pro jednoduché testování. Dále uvedeme metodu testování řídícího obvodu LCD displeje založenou na platformě digitálního testovacího systému.
Řídící obvod řízení LCD, stejně jako jiné běžné obvody, vyžaduje testování některých běžných testovacích položek a také některé speciální zkušební metody z důvodu vlastních vlastností.
3.1 Funkční test
Stejně jako obecný logický obvod musí funkční test ovládacího obvodu LCD displeje ověřit každý funkční modul obvodu. Výstupní úroveň výstupní svorky řídicího signálu LCD řídicího obvodu LCD displeje však není logickou úrovní "0" nebo "1" obecného logického zařízení, ale stupňového analogového signálu. Při testování digitálního testovacího systému je možné testovat stejný segment. Kód pro dvě zkoušky vybírá dvě prahové úrovně pro dosažení základní zkoušky výstupu měniče LCD.
3.1.1 Tipy pro programování
Některé obvody disků LCD mají interní paměťové oblasti RAM, které musí být zapsány alespoň v režimu šachovnice pro zápis dat 0101, 1010 pro testování jejich funkcí pro čtení a zápis, takže sousední adresní jednotky jsou v různých úrovních logické úrovně a někdy dokonce potřebují psát. Zadejte všechny 0 a všechna data pro úplné pokrytí takových funkčních testů.
3.1.2 Programovací tipy II
Funkční testovací kódy někdy potřebují zapisovat sami, spíše než návrháři pomocí logické simulace. V tuto chvíli je nutno pečlivě zvážit funkční zkušební metody tak, aby bylo možné plně pokrýt všechny funkce okruhu a kombinovat faktory zkrácení zkušebního času a snížení nákladů na testování. , A může účinně zkrátit dobu testu. To závisí na vlastním pochopení funkce a praktických zkušeností okruhu.
Řídící obvod řídicího LCD displeje například potřebuje číst a zapisovat obousměrné datové porty prostřednictvím obvodu pro dokončení přenosu příkazů a dat během funkčního testu a poté spolupracovat s jinými logickými jednotkami pro zobrazení písemných dat na výstupním portu LCD. Zkouška vnitřní jednotky RAM může být kompletně ověřena přes obousměrný port, již nemusí být zasílána na výstup LCD ovladače a obousměrná rychlost čtení / zápisu portů může být mnohem rychlejší než výstup zobrazení, takže při testování RAM tímto způsobem může být vhodné Zrychlit frekvenci čtení a zápisu tak, aby se zkrátila doba testování.
3.2 test parametrů
Ostatní testy parametrů obvodu měniče LCD jsou v podstatě stejné jako obecný digitální obvod. Zde jsou některé speciální parametry, které vyžadují pozornost.
3.2.1 Zkouška výstupu měniče LCD
Jak bylo uvedeno výše, ve všech parametrech obvodu ovladače LCD je klíčový parametr výstupní ovladač LCD (nebo odchylka výstupního napěťového výstupu LCD, LCD výstupní odpor). Má rozhodující vliv na zobrazovací efekt LCD displejů, zejména u zobrazovacích zařízení s většími specifikacemi (více pixelových bodů), počet hnacích výstupních kolíků řídicího obvodu řízení LCD je větší, pokud jsou kolíky pod stejným zatížením. Pokud je odchylka výstupního napětí příliš velká, barva zobrazení každého pixelu na LCD displeji bude nekonzistentní. Odchylky výstupního napětí všech výstupních kolíků pohonu řídicího obvodu řídicího LCD displeje se proto musí testovat jeden po druhém. Ujistěte se, že všechny jsou v povoleném rozsahu.
Obvykle je zkušební čas zkušební jednotky DC testovacího systému několik až několika desítek milisekund. Proto čím větší počet pinů výstupu měniče obvodu, tím delší bude zkušební čas této položky a také se zvýší zkušební výrobní náklady okruhu. . Lepší zkušební metoda je:
(1) Pro testovací systémy specifické pro LCD existuje několik digitálních vzorkovačů (DigiTyzer), které lze použít k nepřetržitému odběru vzorků, takže obvod může tuto zkoušku dokončit v poměrně krátké době. Například zkušební systém Yokogawa ST6730 je konfigurován pomocí digitálního vzorkovače pomocí každého výstupního kolíku LCD, zatímco zkušební systém Advantech je vybaven digitálním vzorkovačem pro každých 8 výstupních kolíků LCD.
Schéma digitální zkušební metody vzorkovače je znázorněno na obrázku 1.
The
Obrázek 1 Schematické schéma testovací metody digitálního vzorkovače
(2) Některé zkušební systémy mají zátěžový kolík (zatížení AcTIve). Pokud je provozní napětí každého segmentu testovaného měniče LCD v rámci povolených podmínek hardwaru systému a existuje dostatek zkušebních kanálů, může být také použito. Metoda pro provedení funkčního testu výstupního kolíku ovladače LCD se zatížením je pohodlná a časově úsporná pro dokončení testu tohoto parametru současně s testem funkce. Schematický diagram této metody je uveden na obrázku 2.
3.2.2 zkouška dynamického úniku parciálního tlaku
Tento parametr není hlavním parametrem specifikace obvodu řídicího obvodu LCD, ale při použití digitálního systému pro testování tohoto typu obvodu může přidání tohoto parametru ke zkoušce účinně zlepšit míru pokrytí poruch obvodu. Specifická zkušební metoda je:
Napište data tak, aby výstupní terminál ovladače LCD okruhu mohl běžně zobrazovat v režimu šachovnice a potom proveďte test dynamického svodového proudu na každém vstupním konci napájecího okruhu.
Obr. 2 Schematický diagram funkční zkušební metody pro řízení výstupního kolíku se zátěží
4 Závěr
S rozvojem vědy a techniky se řada obvodů LCD řidičů mění také s každým dnem. Pro tuto řadu obvodů se zkušební metody liší také pro různé výkony obvodů. Tento článek zavádí pouze zkušební metodu řídícího obvodu LCD displeje na základě digitálního testovacího systému a sdílí některé zkušební tipy, které autor shrnuje v praxi. Je vhodný pro nízkonákladové a vysoce kvalitní testování řídicích obvodů řízení LCD.
